Surface et longueur développées.

Pour déterminer ce critère, on calcule l'aire réelle de la surface ou la longueur réelle du profil. Puis, on l'exprime en pourcentage de l'aire à la base avec :

L_d=100·Lréel / N_xP_x

S_d=100·Sréel / (N_xP _xN_yP_y)

Calcul de Pics ou Creux - Volume de rétention.

Une fonction spécifique a été de plus développée pour dénombrer les pics ou les vallées à partir d'une altitude donnée (z_ref) afin de calculer sur chacun d'entre eux les volumes V^p, V^v et les sections qui leurs sont associées S^p, S^v.

Une approche plus globale a également été mise en place pour déterminer l'évolution du volume de rétention (V_r) en fonction de l'altitude, avec :

Ce type d'approche est particulièrement intéressant pour qualifier des surfaces impliquées dans un contact lubrifié ou pour qualifier l'aire de contact de matériaux plus ou moins viscoélastiques en contact avec des matériaux plus ou moins rigides.

Les critères R et W (MOTIF).

Les critères dits "R et W" sont fondés sur une approche géométrique empirique d'étude des profils rugosimétriques développés par et pour l'industrie automobile française, normalisée suivant la référence A32 6100.
Elle détermine dans un premier temps les motifs intuitifs de rugosité, un motif représentant un segment du profil en deux pics majeurs pour calculer les pas AR et les amplitudes R de rugosité. On obtient alors le profil "enveloppe" joignant ces pics. Cette enveloppe permettra à son tour de déterminer les motifs d'ondulation et ainsi de calculer les pas W et les amplitudes d'ondulation.

Les paramètres de fréquence font appel à la transformation de Fourier appliquée directement au signal échantillonné z(x, y) ou z(x), en déterminant la densité spectrale de puissance DSP (fx,fy) et la fonction d'autocorrélation C(bx,by)

IIls permettent en particulier d'analyser l'anisotropie des états de surface. ( Striage )